[CER-17] Transzmissziós elektronmikroszkópia (TEM) / Transmission electron microscopy (TEM)
Konzorciumi Partner / Consortium Partner | [CER] HUN-REN Energiatudományi Kutatóközpont Műszaki Fizikai és Anyagtudományi Intézet |
|---|---|
Szolgáltatás kategóriája / Service category | Áttekintés: Mikroszkópos vizsgálatok / Overview: Microscopy analysis |
Rövid leírás / Short description | Nagyfelbontású szerkezeti és kristályszerkezeti vizsgálat transzmissziós elektronmikroszkóppal. Transmission electron microscopy imaging and electron diffraction with sample preparation |
Várható szállítási idő / Typical lead time | Változó, megrendeléskor számoljuk / Variable, calculated on ordering |
Irányár / Approx. cost | €1,000 mintánként / per sample |
Kép / Image |
Leírás
A TEM szolgáltatás keretében a HUN-REN Energiatudományi Kutatóközpont Műszaki Fizikai és Anyagtudományi Intézete transzmissziós elektronmikroszkópián alapuló nanoszerkezeti vizsgálatot biztosít. A módszer lehetővé teszi atomléptékű felbontással a minták belső szerkezetének, kristályszerkezetének és hibáinak vizsgálatát. A vizsgálat során nagy energiájú elektronnyaláb halad át az ultravékony mintán, amelyből nagy részletességű kép és diffrakciós információ nyerhető. A TEM alkalmas szemcsehatárok, diszlokációk és fázisok azonosítására. A szolgáltatás kiemelten fontos nanoanyagok, félvezető struktúrák és vékonyrétegek elemzésében. Tipikus alkalmazási területei az anyagtudomány, nanotechnológia és mikroelektronika.
Description
A TEM service is provided by the Institute of Technical Physics and Materials Science at the HUN-REN Energy Science Research Center, offering nanoscale structural examination based on transmission electron microscopy. This method allows the investigation of the internal structure, crystal structure, and defects of samples with atomic-scale resolution. During the examination, a high-energy electron beam passes through an ultrathin sample, from which highly detailed images and diffraction information can be obtained. TEM is suitable for identifying grain boundaries, dislocations, and phases. The service is especially important for analyzing nanomaterials, semiconductor structures, and thin films. Typical application areas include materials science, nanotechnology, and microelectronics.